Professor Johannes Orphal erhält deutsch-französische Auszeichnung

Die Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG) und die Société Française de Physique (SFP) zeichnen den Klimaforscher für seine Beiträge zur Vermessung atmosphärischer Spurengase aus.

Für besonders wertvolle wissenschaftliche Leistungen in der Physik verleihen die DPG und die SFP jährlich gemeinsam den Gentner-Kastler-Preis. Zum Preisträger des Jahres 2017 wurde Professor Johannes Orphal https://intranet.kit.edu/img/icon_external_link_intranet.gif benannt „für seine herausragenden Beiträge zur Vermessung atmosphärischer Spurengase mit Hilfe hochauflösender Spektroskopie und für sein anhaltendes Engagement in der Europäischen und insbesondere der deutsch-französischen Zusammenarbeit auf dem Gebiet der Umweltphysik“. Die Preisverleihung findet anlässlich des Jahreskongresses der SFP im Sommer 2017 in Frankreich statt.

Preisträger Johannes Orphal (Foto: Patrick Langer, KIT)Preisträger Johannes Orphal (Foto: Patrick Langer, KIT)

Johannes Orphal leitet seit 2009 das Institut für Meteorologie und Klimaforschung - Atmosphärische Spurengase und Fernerkundung (IMK-ASF) am KIT. Im Mittelpunkt seiner Forschung stehen die komplexen dynamischen, physikalischen und chemischen Prozesse in der Erdatmosphäre und ihr Einfluss auf den Klimawandel. Für die Modellierung der Prozesse spielen hochgenaue Messungen von atmosphärischen Spurengasen eine wesentliche Rolle. Orphal habe dieses hochaktuelle Gebiet durch die Entwicklung innovativer, teils satellitengestützter Messmethoden und durch sein Engagement bei bedeutenden internationalen Kollaborationen entscheidend vorangetrieben und nachhaltig geprägt, so DPG und SFP.

io, 01.12.2016